재구성 가능한 지능형 표면(RIS)을 활용한 무선 통신 채널의 성능을 최적화하기 위해서는 RIS의 전자기적 특성을 정확하게 모델링하는 것이 필수적이다. 본 연구에서는 기존에 제안된 RIS의 다중 포트 네트워크 모델을 검증하고, 전파 해석 PEEC 시뮬레이터의 활용 가능성을 입증하였다.
