在超解析度超聲定位顯微鏡 (ULM) 中，雖然誤報 (FP) 和漏檢 (FN) 都會影響成像品質，但與誤報相比，漏檢對結構相似性指標 (SSIM) 的影響更大，尤其是在 MB 稀疏區域和使用較高超聲頻率時，更需要精確的檢測閾值來減輕漏檢的影響。
