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통찰
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우주 마이크로파 배경 복사 이방성 모델링 없이 허블 상수와 물질 밀도 매개변수 제약
우주 마이크로파 배경 복사 이방성 모델링 없이 허블 상수와 물질 밀도 매개변수에 대한 제약
우주 마이크로파 배경 복사 이방성 모델링 없이도 허블 상수와 물질 밀도 매개변수에 대한 일관된 제약 영역이 존재한다.
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