본 논문은 선형 시스템 식별 문제에 대한 새로운 접근법을 제시한다. 기존 연구와 달리, 이 방법은 시스템 파라미터가 유한한 후보 모델 집합에 속한다는 사전 지식을 활용하여 차원에 독립적인 샘플 복잡도 보장을 제공한다.
본 논문은 적대적 비중심 외란이 있는 경우에도 $l_1$-놈 추정기를 사용하여 선형 시스템의 파라미터를 정확하게 복원할 수 있음을 보여줍니다.
