본 논문에서는 제한된 적대적 노이즈 환경에서 양자 계산의 신뢰성을 평가하기 위한 향상된 인증 프로토콜을 제시합니다. 이는 기존 인증 프로토콜에서 가정되었던 IID 노이즈 모델을 현실적인 제한적 적대적 노이즈 모델로 대체하여 달성되었습니다.
