비대칭 이진 가설 검정 문제에서 독립 동일 분포 관측치를 이용한 최적 오류 확률에 대한 새로운 엄밀한 상한을 도출하였다. 정규 근사와 오류 지수 접근법보다 더 정확한 비대칭 영역에서의 비대칭 근사를 제공한다.
