ハードウェアメモリ一貫性の効率的な検証

メモリ一貫性モデル(MCM)の検証は、一般目的の高性能なオーバーアウトオーダー発行マイクロプロセッサベースの共有メモリシステムにとって非常に複雑であり、ハードウェア設計バグの主な原因となっている。QEDは、観察可能性に基づく新しい検証手法を提案し、メモリ命令の直接順序ペアと外部イベントのみを考慮することで、スケーラブルな検証を実現する。